DLT 1151.22-2012 火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法 第22部分：X-射线荧光光谱和X-射线衍射分析
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C8D1EC701C1645F6BD28410EF7B213BA |
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文件大小(MB)： |
2.08 |
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9 |
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日期： |
2014-3-9 |
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ⅡCs27,"00,F24,备案号: 37θ 引-20"2,中华人民共和国电力行业标准,DL`T ""5",22— —20"2,代替sD202-19陌,火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法,第” 部分:X 射线荧光光谱和,射线衍射分析,A△aΠy"caⅡ E=iet⒒ od§ of§caIe a⒒ d corrogiO1i products二△poWer pIants,Part22:§talldard te§ t method§ of X-ray■ uore§cellce§pectrometry a△ d,X-ray d二ⅢiamoⅡ,20"2-08-23发布,国家能源局 发布,20"2-"2-0"实施,DLrT""5"22-20"2,次,∷,l 范围l'∷⒉,2 规范性引用文仵.中 .1伲,3 名诃和术语..¨¨¨¨¨..1辊,4 方法概要中¨¨..¨..¨.¨:¨¨¨¨¨..¨1铝,5 试样的采集与处理..¨¨¨¨¨¨¨¨..143,6 化学咸分分析.¨..¨¨¨¨¨..143,7 物相分析..¨¨..¨¨¨.145,8 分析结果的校核.. . ¨¨¨¨.147,9 试验报眚.¨.¨¨..147,10o,DL`T】15122-2012,亠刚,曰,DL/T ll⒌-⒛ 12《火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法》分为彡个部分:,第1部分:通则,第2部分:试样的采集与处理,第3部分:水分的测定,第4部分:灼烧减(增〉量的测定,第5部分:三氧化二铁的测定,第6部分:三氧化二铝的测定,第7部分的测定——分光光度法,第8部分的测定——碘量法,第9部分:氧化钙和氧化镁的测定,第10部分:二氧化硅的测定,第I1部分;氧化锌的测定,第12部分酸酐的测定,第13部分:硫酸酐的测定——硫酸钡光度法,第14部分:硫酸酐的测定-—铬酸钡光度法,第15部分;水溶性垢待测试液的制备,第16部分:水溶性垢中碱、碳酸盐及重碳酸盐的测定,第17部分:水溶性垢样中氯化物的测定,第18部分:水溶性垢样中氧化钠的测定,第19部分:水溶性垢样中其他成分的测定,第20部分:碳酸盐垢中二氧化碳的测定,第21部分:金属元素的测定——等离子发射光谱法,第⒛ 部分:X一射线荧光光谱和X一射线衍射分析,本部分为DL/T1151-2012的第″ 部分,本部分由中国电力企业联合会提出,本部分由电力行业电厂化学标准化技术委员会归口,本部分起草单位:西安热工研究院有限公司.,本部分主要起草人:孙巍伟、田利、戴鑫、史庆琳、王广珠,本部分自实施之日起代替sD⒛2-19⒗ 《火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法》,本部分在执行过程中的意见或建议反馈至中国电力企业联合会标准化管理中心叫匕京市白广路二条,一号,lO0761),DL`T""5122-2012,火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法,垢和腐蚀产物的化学成分(C~,蚀产物的化学咸分(C~,适用于本文件,DuTl1512,第” 部分:X一射线荧光光谱和X一射线衍射分析,1 苑围,本部分规定了便用X,U)和物相组成进行定性、定,本部分适用于使用X,U)利物相组成进行定,2 规范性引用文件,下列文件对于,凡是不注日期的引,CBZ115 X,GBW(E),CBW(E),JJC810,3,g1,JJG629 彐,ΓF/TO09-— l,名词和术语,原子内层轨道电子子外层轨道电子跃入,内层空轨道时放出能量, X射线由一系列不连续,的、表示发射元素特征射线及其强度,可进行试,样中各种化学成分的定性、定,32,析),分析线 a。alyte△△eo,用于判定某待测元素是否存在,并根据其相对强度确定待测元素含量的特征谱线,θ3,背底 backgrouⅡd,叠加在分析线上的连续谱,主要来自试料对入射辐射的散射,也叫作本底、背景,34,物相分析 p△臼000Ⅱ aly茁o,对物质存在的状态、形态、价态进行确定的分析过程,35,X射线衍射分析 Xoray山mmHt.ll aⅡ 砷曲,X射线照射到晶体上发生散射,散射波中与入射波波长相同的相干散射波互相干涉,产生衍射图谱,142,冖厶。 、,法、Ⅹ射线衍射法对火力,应用是必不可少的。凡是注日期,其最新版本(包括所有的修改单于本文件,准物质,:试样的采,多晶体X,Ⅱuoreσce△ce叩oC"01110"aⅡnly。、,X射线激发丿跃迁至外层轨道,产,X射线(也称作荧光X,分析试样的荧光X,{⒛ -2012,(X-ray dl脱otioⅡ pattom,也称作X射线衍射花样或XRD图谱〉.不同物相的化学成分和晶体结构不同,肜成不同的衍射图谱。当试样为多晶体(即晶体粉末)时,得到粉末衍射图谱。分析试样的XRD图谱,中各衍射线的位置及相对强度,可进行试样中各种物相的定性、定量分析,称为X射线衍射分析(Ⅺ●,分析),ao,粉未衍射丈件 powder difFrao乱Ⅱih,已知物质的粉末XRD图谱,用作与待测样品的XRD图谱比对以确定该物质是否存.“ 国际衍射数,据中心”(1CDD〉出版的粉末衍射文件(简称PDF卡片)是便用最广泛的标准粉末衍射图谱,37,全谱拟合分析 who】e pa竹erⅡ ⅡmⅡg a△ a】yoi◆,以X射线与晶体相互作用的理论、晶体结构模型和晶体结构参数为基础,利用各种峰型函数,计算,多晶体的X射线衍射谱图,通过调整晶体结构模型及其参数、峰型函数及其参数,使计算的多晶体衍射,谱图与实验衍射谱图相符合,从而获得试样的晶体结构参数和组成的试验数据处理方法,4 方法概要,本部分利用X射线荧光分析法分析试样中的化学成分的含量;利用X射线衍射分析法分析试样中,所含有的物相;……
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